交流评论、关注点赞

  • Facebook Icon脸书专页
  • telegram Icon翻墙交流电报群
  • telegram Icon电报频道
  • RSS订阅禁闻RSS/FEED订阅

三星 HBM 芯片因发热和功耗问题未通过英伟达测试

2024年05月24日 12:00 PDF版 分享转发

HBM 因发热和功耗问题未通过测试

三位知情人事表示,由于发热和功耗问题,最新的高带宽内存 (HBM) 芯片未能通过英伟达的测试,无法用于这家处理器。消息人士表示,这影响了三星的 HBM3 (第四代)、HBM3E (第五代) 芯片。这是首次报道三星未能通过英伟达测试的原因。三星在给路透社的声明中表示, HBM 是一种定制的内存产品,需要“根据客户需求进行优化过程”,并补充说,该公司正在通过与客户的密切合作来优化其产品。三星拒绝对具体客户发表评论

—— 路透社

转自: 风向旗快讯

喜欢、支持,请转发分享↓Follow Us 责任编辑:金兰